高溫老化房是 老化房的一種。

老化房，又稱燒機(jī)房，是各種老化試驗(yàn)中常用設(shè)備之一，廣泛應(yīng)用于電子、電腦、通訊等領(lǐng)域。
老化房通常由房體、風(fēng)道系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、室內(nèi)測(cè)試架構(gòu)等組成。

老化房（燒機(jī)房）ORT老化房、高溫老化房、老化試驗(yàn)室

 
老化房的特點(diǎn)：
1． 溫度控制準(zhǔn)確，精度高。由于采用了*的風(fēng)道系統(tǒng)設(shè)計(jì)及電控系統(tǒng)，能保持整個(gè)房間溫度高度均勻性，大大高于同類產(chǎn)品。
2． 房間設(shè)定溫度范圍廣，連續(xù)可調(diào)。在常溫+5℃--60℃（常溫+5℃--80℃）范圍內(nèi)可任意設(shè)定。若客戶特別要求，可設(shè)計(jì)更高溫度產(chǎn)品。
3． 系統(tǒng)保護(hù)功能齊全，能確保安全長(zhǎng)期穩(wěn)定*運(yùn)行。
4．試驗(yàn)室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)先進(jìn)合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有同行的先進(jìn)水平，能夠適應(yīng)長(zhǎng)期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產(chǎn)要求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長(zhǎng)，造型美觀，有良好的用戶界面，使用戶的操作和監(jiān)測(cè)都更加簡(jiǎn)單和直觀。
5．設(shè)備主要部件選用國(guó)內(nèi)外廠家的產(chǎn)品，確保整機(jī)的質(zhì)量和性能
6． 外形美觀，施工方便，施工周期短。
產(chǎn)品用途：廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域產(chǎn)品的老化試驗(yàn)
 
老化房分類
一，房間隔離式測(cè)試系統(tǒng)型
房間隔離式老化房房間尺寸均根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)，進(jìn)出門采用保溫推拉門或?qū)﹂_保溫門，另根據(jù)需要可設(shè)置觀察窗，方便在室外觀察到室內(nèi)產(chǎn)品測(cè)試情況。如需電源提供則在方便操作的位置安裝電源插座，以滿足產(chǎn)品老化測(cè)試時(shí)的需要，特點(diǎn)：對(duì)產(chǎn)品的樣式與臺(tái)車的樣式要求低，活動(dòng)空間大，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本較低。
 二，Chamber隔離式測(cè)試系統(tǒng)型
Chamber隔離式老化房房間尺寸均根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)，測(cè)試區(qū)采用推拉門及大視角玻璃視窗，如產(chǎn)品需要電源提供，則采用國(guó)內(nèi)插座固定在產(chǎn)品架線槽上或固定在測(cè)試區(qū)方便操作的位置。特點(diǎn)：可使操作人員在不用進(jìn)入老化房測(cè)試區(qū)內(nèi)就可以上下測(cè)試產(chǎn)品并可測(cè)試過程中一目了然的看到產(chǎn)品的B/I狀況；免去操作人員進(jìn)入老化房室內(nèi)經(jīng)受房體過熱之苦、更能節(jié)約能源。
 三，移動(dòng)式測(cè)試系統(tǒng)型
移動(dòng)式老化房在本公司直接加工為成品（如需求體積太大既在客戶現(xiàn)場(chǎng)拼裝而成），臺(tái)車尺寸均根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)。適合于產(chǎn)量少或研發(fā)試驗(yàn)產(chǎn)品小批量測(cè)試，，其它部分與Chamber測(cè)試系統(tǒng)相似，特點(diǎn)：占地面積小，可以隨時(shí)搬遷移動(dòng)。

老化房詳細(xì)資料
1．主要技術(shù)參數(shù)：
1.1   溫度范圍：常溫+5℃--60℃（常溫+5℃---80℃）
1.2   溫度波動(dòng)：±0.5℃；
1.3   溫度偏差：zui大精度±2℃（可根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)精度）
1.4   房?jī)?nèi)尺寸：按要求；
1.5   運(yùn)行方式：溫度可調(diào)，恒定運(yùn)行或程序運(yùn)行（可選觸摸屏式程序運(yùn)行）
1.6   安裝電源：AC~380V；50 Hz；
1.7   噪音大小：≦75分貝

注：本試驗(yàn)設(shè)備禁止；
1：易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
2 ：腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
3：生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
4：強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存